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ASTM - Amerikanische technische Normen
Seite 2288
ASTM B650-95(2002) (10.11.1995) Ungültige
Standard Specification for Electrodeposited Engineering Chromium Coatings on Ferrous Substrates
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt
ab 73.50 EUR weitere informationen
ASTM B650-95(2008) (01.08.2008) Ungültige
Standard Specification for Electrodeposited Engineering Chromium Coatings on Ferrous Substrates
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM B650-95(2013) (01.12.2013) Ungültige
Standard Specification for Electrodeposited Engineering Chromium Coatings on Ferrous Substrates
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM B650-95(2018) (01.06.2018) Ungültige
Standard Specification for Electrodeposited Engineering Chromium Coatings on Ferrous Substrates
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ASTM B650-95(2023) (01.05.2023) Ungültige
Standard Specification for Electrodeposited Engineering Chromium Coatings on Ferrous Substrates
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM B651-83(1995) (26.08.1983) Ungültige
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with the Double-Beam Interference Microscope
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ASTM B651-83(2001) (26.08.1983) Ungültige
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with the Double-Beam Interference Microscope
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM B651-83(2006) (01.04.2006) Ungültige
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with Double-Beam Interference Microscope
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ASTM B651-83(2010) (01.11.2010) Ungültige
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with Double-Beam Interference Microscope
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM B651-83(2015) (01.03.2015) Ungültige
Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with Double-Beam Interference Microscope
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