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ASTM - Amerikanische technische Normen
Seite 7723
ASTM E430-97 (10.07.1997) Ungültige
Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM E430-97(2003) (10.01.2003) Ungültige
Standard Test Methods for Measurement of Gloss of High-Gloss Surfaces by Goniophotometry
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM E431-96 (10.12.1996) Ungültige
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM E431-96(2002) (10.12.1996) Ungültige
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
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ASTM E431-96(2007) (01.07.2007) Ungültige
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
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ASTM E431-96(2011) (01.12.2011) Ungültige
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
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ASTM E431-96(2016) (01.06.2016) Ungültige
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
Verfügbare Sprachen: Englisch
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ASTM E432-91(1997) (01.01.1997) Ungültige
Standard Guide for Selection of a Leak Testing Method
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ASTM E432-91(2004) (01.05.2004) Ungültige
Standard Guide for Selection of a Leak Testing Method
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ASTM E432-91(2011) (01.07.2011) Ungültige
Standard Guide for Selection of a Leak Testing Method
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