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BS - Britische nationale Normen
Seite 3573
BS EN 60444-2:1997 (15.09.1993)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units.
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BS EN 60444-3:1997 (15.09.1993)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a pi-network with compensation of the parallel capacitance C0.
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BS EN 60444-4:1997 (15.08.1993)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz.
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BS EN 60444-5:1997 (15.10.1995)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction.
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BS EN 60444-6:2013 (31.10.2013)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Measurement of drive level dependence (DLD).
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BS EN IEC 60444-6:2021 (05.11.2021)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Measurement of drive level dependence (DLD).
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BS EN IEC 60444-6:2021-TC (18.05.2022)
Tracked Changes. Measurement of quartz crystal unit parameters. Measurement of drive level dependence (DLD).
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BS EN 60444-7:2004 (03.09.2004)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units.
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BS EN 60444-8:2017 (26.05.2017)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Test fixture for surface mounted quartz crystal units.
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BS EN 60444-9:2007 (31.05.2007)
Measurement of quartz crystal unit parameters. Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units.
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