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BS - Britische nationale Normen
Seite 3668
BS IEC 60747-2:2025-TC (27.10.2025)
Tracked Changes. Semiconductor devices. Discrete devices. Rectifier diodes.
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BS IEC 60747-3:2013 (30.04.2015)
Semiconductor devices. Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes.
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BS IEC 60747-4:2007+A1:2017 (26.05.2020)
Semiconductor devices. Discrete devices. Microwave diodes and transistors.
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BS IEC 60747-5-10:2019 (14.01.2020)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point.
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BS IEC 60747-5-11:2019 (14.01.2020)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes.
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BS IEC 60747-5-13:2021+A1:2026 (06.02.2026)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages.
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BS IEC 60747-5-14:2022 (26.09.2024)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the surface temperature based on the thermoreflectance method.
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BS IEC 60747-5-15:2022 (19.07.2022)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy.
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BS IEC 60747-5-16:2023 (05.04.2023)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy.
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BS IEC 60747-5-18:2026 (16.06.2026)
Semiconductor devices. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro light emitting diodes.
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