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GB - Chinesische nationale Normen
Seite 5293
GB/T 6619-2009 (30.10.2009)
Test methods for bow of silicon wafers
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GB/T 6620-2009 (30.10.2009)
Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning
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GB/T 6621-2009 (30.10.2009)
Testing methods for surface flatness of silicon slices
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GB/T 6624-2009 (30.10.2009)
Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
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GB/T 6627-1986 (29.07.1986)
Designations for lumbered synthetic quartz crystals
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GB/T 664-2011 (12.05.2011)
Chemical reagent - Iron()sulfate heptahydrate
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GB/T 6643-1986 (31.07.1986)
General purpose rigid coaxial transmission lines and their associated flange connectors--Generic specification
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GB/T 6645-2008 (30.06.2008)
Granulated electric furnace phosphorous slag used for cement
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GB/T 6646-2008 (20.08.2008)
Chrysotile asbestos test methods
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GB/T 6648-1986 (31.07.1986)
Blank detail specification for semiconductor inte-grated circuit static read/write memories
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