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ČSN - Tschechische nationale Normen
Seite 3380
ČSN EN 61967-6 (01.05.2003)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method
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ČSN EN 61967-6:2003/A1 (01.10.2008) Change
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
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ČSN EN 61967-6:2003/Oprava1 (01.06.2011) Correction
Integrované obvody - Měření elektromagnetických emisí, 150 kHz až 1 GHz - Část 6: Měření emisí šířených vedením - Metoda s magnetickou sondou. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
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ČSN EN IEC 62228-6 (01.06.2023)
Integrated circuit - EMC evaluation of transceivers - Part 6: PSI5 transceivers
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ČSN EN IEC 62228-7 (01.10.2022)
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 7: CXPI transceivers
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ČSN EN IEC 61967-8-ed.2 (01.12.2023)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
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ČSN EN 62132-8 (01.04.2013)
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
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ČSN IEC 748-11 (01.10.1993)
Semiductors devices. Integrated circuits. Part 11: Sectional specification for semiductor integrated circuits excluding hybrid circuits
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ČSN IEC 748-11:1993/A1 (01.08.1997) Change
Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 11: Dílčí norma pro polovodičové integrované obvody kromě hybridních obvodů.
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ČSN IEC 748-11-1 (01.10.1996)
Semiconductor devices. Integral circuits. Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
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