DIN - Deutsche nationale Normen

VDE 0435-2027-9. Electrical relays - Tests and measurements - Part 9: Climatic tests.
(VDE 0435-2027-9. Elektrische Relais - Mess- und Prüfverfahren - Teil 9: Klimaprüfungen.)

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Artificial Intelligence enabled Medical Devices - Computer assisted analysis software for pulmonary images - Algorithm performance test methods.
(KI-gestützte medizinische Geräte - Computergestützte Analysesoftware für Aufnahmen der Lunge - Verfahren zur Prüfung der Leistung von Algorithmen.)

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Lathe chucks, power-operated, without trough-hole - Cross tenon type jaw mounting.
(Drehfutter, kraftbetätigt, ohne Durchlass - Spannbackenaufnahme nach Art des Kreuzversatzes.)

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VDE 0831-668. Railway applications - Signalling and control systems for non UGTMS Urban Rail systems (Fast track).
(VDE 0831-668. Bahnanwendungen - Signal- und Zugsicherungssysteme für städtische Schienenbahnen ohne UGTMS (Fast track).)

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Milling machine arbors with steep taper, complete.
(Fräserdorne mit Steilkegel, vollständig.)

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VDE 0711-700-1. Horticultural lighting - Luminaires for horticultural lighting - Safety.
(VDE 0711-700-1. Pflanzenbaubeleuchtung - Leuchten für Pflanzenbaubeleuchtung - Sicherheit.)

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Clamping Devices; Milling Machine Arbors with Taper.
(Fräserdorne mit Steilkegel.)

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VDE 0884-3550-1. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices.
(VDE 0884-3550-1. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen.)

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VDE 0884-3550-2. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-2. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen.)

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VDE 0884-3550-3. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-3. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen.)

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