IEC - Internationale elektrotechnische Organisation

Electric toasters for household and similar purposes - Methods for measuring the performance
(Grille-pain electriques pour usages domestiques et analogues - Methode de mesure de l´aptitude a la fonction)

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Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
(Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi - Partie 1: Methode fondamentale pour la mesure de la frequence de resonance et de la resistance de resonance des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi)

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Amendment 1 - Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 1: Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a pi-network
(Amendement 1 - Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Premiere partie: Methode fondamentale pour la mesure de la frequence de resonance et de la resistance de resonance des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi)

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 11: Methode normalisee pour la determination de la frequence de resonance avec capacite de charge fL et de la capacite de charge effective CLeff a l´aide de techniques d´analyseur de reseau automatiques et de correction d´erreur)

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction

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Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
(Mesure des parametres des quartz piezoelectriques par la technique de phase nulle dans le circuit en pi. Deuxieme partie: Methode de decalage de phase pour la mesure de la capacite dynamique des quartz)

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Measurement of quartz crystal units parameters - Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 5: Methodes pour la determination des parametres electriques equivalents utilisant des analyseurs automatiques de reseaux et correction des erreurs)

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 6: Mesure de la dependance du niveau d’excitation (DNE))

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)

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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
(Mesure des parametres des resonateurs a quartz - Partie 7: Mesure des baisses de l´activite et de la frequence des resonateurs a quartz)

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