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GOST - Russische nationale Normen
Seite 3606
GOST R 71640-2024 (01.03.2025)
Electronic equipment products. Test methods for the detection of foreign freely moving particles
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GOST R 71641-2024 (01.03.2025)
Radiation detectors silicon. Methods for determining time parameters
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GOST R 71642-2024 (01.03.2025)
Quartz resonators. Methods for measuring dynamic parameters control samples
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GOST R 71643-2024 (01.03.2025)
Pe?ohatop p?e?oe?ektp??eck?e. Meto? ??mepeh?? pacce?baemo? mo?hoct?
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GOST R 71644-2024 (01.03.2025)
Ih??katop ?hakoc?hte??py???e. Meto? ??mepeh?? ? oppe?e?eh?? papametpob, xapaktep??y???x ka?ectbo otobpa?aemo? ?hfopma??? ? ha?e?hoct? ee bocpp??t??
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GOST R 71645-2024 (01.03.2025)
Silicon is a semiconductor. Method of measuring the concentration of impurities
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GOST R 71646-2024 (01.03.2025)
Cryoelectronic and thermoelectronic cooled products. Methods of measuring noise temperature in the range 4—100 K
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GOST R 71647-2024 (01.03.2025)
Sign-synthesizing gas-discharge indicators. Methods of quality assessment in the control of electrical parameters
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GOST R 71648-2024 (01.03.2025)
Electronic equipment products. Electrochemical method for determining the quality index of coatings
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GOST R 71649-2024 (01.03.2025)
Resists for integrated circuits, semiconductor devices and photomasks. General technical requirements
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