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GOST - Russische nationale Normen
Seite 844
GOST 18986.11-84 (01.07.1985)
Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
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GOST 18986.12-74 (01.07.1976)
Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode
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GOST 18986.13-74 (01.07.1976)
Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage
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GOST 18986.14-85 (01.07.1986)
Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances
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GOST 18986.15-75 (01.01.1977)
Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage
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GOST 18986.16-72 (01.01.1974)
Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current
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GOST 18986.17-73 (01.07.1974)
Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage
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GOST 18986.18-73 (01.07.1974)
Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance
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GOST 18986.19-73 (01.01.1975)
Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor
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GOST 18986.20-77 (01.01.1979)
Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time
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