Ungültige | Herausgegeben: 01.10.2010

ASTM E1855-10 Ungültige

Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

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Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E1855-10

Ausgabedatum: 01.10.2010

Seiten: 10

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors, Damage assessment--nuclear materials/applications, Displacement--electronic materials/applications, Radiation-hardness testing, Silicon bipolar transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

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