ASTM E2244-05 img
Ungültige | Herausgegeben: 01.11.2005

ASTM E2244-05 Ungültige

Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 85.80 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E2244-05

Ausgabedatum: 01.11.2005

Seiten: 11

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
cantilevers, combined standard uncertainty, deflection measurements, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, strain gradient, test structure, ICS Number Code 37.040.20 (Photographic paper, film and plates. Cartridges)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.