ASTM E2382-04 img
Ungültige | Herausgegeben: 01.08.2004

ASTM E2382-04 Ungültige

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF

ab 2 089.20 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E2382-04

Ausgabedatum: 01.08.2004

Seiten: 20

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.