ASTM E3517/E3517M-26 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.02.2026

ASTM E3517/E3517M-26

Standard Practice for Flaw Sizing using Total Focusing Method

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Sicheres Online-PDF, Gedruckt

ab 63.30 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E3517/E3517M-26

Ausgabedatum: 01.02.2026

Seiten: 7

Land: Amerikanische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Keywords:
flaw sizing, full matrix capture, plane-wave imaging, total focusing method, ultrasonic,
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.