ASTM E722-09 Ungültige

Detailinformationen

Bezeichnung: ASTM E722-09

Ausgabedatum: 01.06.2009

Seiten: 27

Anmerkung: Ungültige

Land: Amerikanische technische Norm

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Erhältlich auf www.technormen.de

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Keywords:
displacement damage, electronic hardness, gallium arsenide, hardness parameter, silicon, silicon damage, silicon equivalent damage (SED), 1-MeV equivalent fluence, Displacement--electronic materials/applications, Electrical conductors (semiconductors), Electronic hardness, Gamma radiation--electronic components/devices, 1MeV equivalent fluence, Neutron flux/fluence, Neutron sensors, Radiation-hardness testing, Silicon equivalent damage (SED), Silicon semiconductors