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Aktiv Normen | Herausgegeben: 10.05.2019
BS IEC 63068-1:2019
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Classification of defects.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 269.50 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 63068-1:2019
Ausgabedatum: 10.05.2019
Seiten: 26
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 580 96413 8 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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