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Aktiv Normen | Herausgegeben: 05.10.2022
BS IEC 63275-1:2022
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 217.30 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: BS IEC 63275-1:2022
Ausgabedatum: 05.10.2022
Seiten: 16
Land: Britische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: DefinitivePopuläre Herausgeber
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