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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-23
Ausgabedatum: 01.12.2004
Seiten: 24
Land: Tschechische technische Norm