ČSN EN 60749-25 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.06.2004

ČSN EN 60749-25

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 14.50 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN 60749-25

Ausgabedatum: 01.06.2004

Seiten: 32

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato část IEC 60749 stanovuje zkušební postup k určování způsobilosti polovodičových součástek a součástí a/nebo montážních desek vydržet mechanické namáhání způsobené střídáním vysokých a nízkých teplotních extrémů. Trvalé změny elektrických a/nebo fyzikálních parametrů mohou být důsledkem těchto mechanických namáhání.
Tato zkušební metoda je obecně v souladu s IEC 60068-2-14, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy. Tato zkušební metoda platí pro jedno, dvou a tříkomorové teplotní cykly a zahrnuje zkoušení součástí a pájecích spojů. Při jednokomorovém cyklu je dávka umístěna ve stabilní komoře a je zahřívána nebo ochlazována přiváděním horkého, okolního nebo studeného vzduchu do komory. Při dvoukomorovém cyklu je dávka umístěna na pohyblivé desce samovolně se pohybující mezi stabilními komorami, které jsou udržovány na stálých teplotách. Při tříkomorovém teplotním cyklu se dávka pohybuje mezi třemi komorami.
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.