ČSN EN 60749-3-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 9.20 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN 60749-3-ed.2

Ausgabedatum: 01.10.2017

Seiten: 20

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Účelem této normy je ověřit, zda jsou materiály, návrh, konstrukce, značení a provedení polovodičové součástky v souladu s příslušným dokumentem pro zadávání zakázek. Vnější vizuální prohlídka je nedestruktivní zkouška, která je aplikovatelná na všechny typy pouzder. Zkouška je užitečná pro kvalifikaci, sledování procesu nebo schválení výrobní dávky

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog