Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-4
Ausgabedatum: 01.04.2003
Seiten: 24
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm