Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-43
Ausgabedatum: 01.01.2018
Seiten: 48
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm