Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN EN 60749-5
Ausgabedatum: 01.11.2003
Seiten: 20
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm