ČSN EN 60749-6-ed.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 9.20 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN 60749-6-ed.2

Ausgabedatum: 01.10.2017

Seiten: 16

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Účelem této normy je zkoušet a určit vliv skladování při zvýšené teplotě na všechny elektronické součástky bez použití elektrického namáhání. Tato zkouška se obvykle používá k určení vlivu času a teploty v podmínkách skladování, na tepelně aktivované metody poruch a určení času do poruchy elektronických součástek, včetně energeticky nezávislých paměťových zařízení (mechanismy selhání dat). Tato zkouška je považována za nedestruktivní, ale měla by být raději používána pro kvalifikaci součástek. Jestliže jsou takové součástky používány pro dodávku, bude třeba účinky této zkoušky velmi zrychleným namáháním vyhodnotit.
Tepelně aktivované metody poruch jsou modelovány pomocí Arrheniusovi rovnice. Návod pro výběr zkušebních teplot a dob trvání lze nalézt v IEC 60749-43

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog