Cookies
Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.04.2021
ČSN EN IEC 60749-20-ed.3
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
ab 17.90 EUR
im E-Shop anzeigen
Detailinformationen
Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-20-ed.3
Ausgabedatum: 01.04.2021
Seiten: 40
Land: Tschechische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Tato norma poskytuje prostředky pro hodnocení odolnosti proti teplu při pájení uzavřených polovodičů, jako jsou v plastu zapouzdřené součástky pro povrchovou montáž (SMD). Tato zkouška je destruktivníPopuläre Herausgeber
DIN Normen
BS Normen
ASTM Normen
ISO Normen
IEC Normen
Copyright © All rights reserved | This template is made with by Colorlib
