Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.06.2026

ČSN EN IEC 60749-7-ed.3

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)

Verfügbare Ausführung: Gedruckt

ab 16.20 USD im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ČSN EN IEC 60749-7-ed.3

Ausgabedatum: 01.06.2026

Seiten: 24

Land: Tschechische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Tato norma definuje zkoušení a měření obsahu vodní páry a dalších plynů uvnitř kovové, nebo keramické hermeticky uzavřené součástky. Zkouška se používá na měření kvality pouzdření a poskytuje informaci o dlouhodobé chemické stabilitě atmosféry uvnitř pouzdra. Je použitelná pro takto pouzdřené polovodičové součástky, ale používá se převážně pro aplikace, kde se požaduje vysoká spolehlivost jako je vojenská technika, nebo letectví. Tato zkouška je destruktivní
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.