Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: ČSN IEC 749
Ausgabedatum: 01.03.1994
Seiten: 32
Anmerkung: Ungültige
Land: Tschechische technische Norm