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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.11.2017
DIN EN 60749-9:2017-11
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking.
(Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 63.30 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: DIN EN 60749-9:2017-11
Ausgabedatum: 01.11.2017
Seiten: 10
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung.Populäre Herausgeber
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