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Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.12.2010
DIN EN 62417:2010-12
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).
(Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
ab 63.30 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: DIN EN 62417:2010-12
Ausgabedatum: 01.12.2010
Seiten: 9
Land: Deutsche technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Halbleiterbauelemente - Prüfverfahren auf mobile Ionen für Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET).Populäre Herausgeber
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