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Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile.
(Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: PDF - sofortiges Download, Gedruckt
Bezeichnung: DIN EN IEC 63287-2:2024-10
Ausgabedatum: 01.10.2024
Seiten: 19
Land: Deutsche technische Norm