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VDE V 0847-22-9. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method.
(VDE V 0847-22-9. Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - Verfahren der Oberflächenabtastung.)
Verfügbare Sprachen: Deutsch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Bezeichnung: DIN IEC/TS 62132-9:2015-08
Ausgabedatum: 01.08.2015
Seiten: 26
Land: Deutsche technische Norm