Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.05.2026

E DIN EN IEC 63550-3:2026-05

VDE 0884-3550-3. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-3. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen.)

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Detailinformationen

Bezeichnung: E DIN EN IEC 63550-3:2026-05

Ausgabedatum: 01.05.2026

Seiten: 46

Land: Deutsche technische Norm

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VDE 0884-3550-3. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen.

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