Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: GB/T 24576-2009
Ausgabedatum: 30.10.2009
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm