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Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.12.2018
GB/T 26068-2018
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 718.80 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: GB/T 26068-2018
Ausgabedatum: 28.12.2018
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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