GB/T 33657-2017 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 12.05.2017

GB/T 33657-2017

Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 7 186.50 CZK im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: GB/T 33657-2017

Ausgabedatum: 12.05.2017

Seiten: 0

Land: Chinesische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.