GB/T 42709.8-2026 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.07.2026

GB/T 42709.8-2026

Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 509.40 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: GB/T 42709.8-2026

Ausgabedatum: 30.07.2026

Seiten: 0

Land: Chinesische technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.