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Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.01.2026
GB/T 47073-2026
Surface chemical analysis—Depth profiling—Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
Verfügbare Sprachen: English, Chinesisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 744.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: GB/T 47073-2026
Ausgabedatum: 28.01.2026
Seiten: 0
Land: Chinesische technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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