IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0 img
Aktiv Normen | Herausgegeben: 04.12.2015

IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0

Device embedded substrate - Part 2-2: Guidelines - Electrical testing
(Substrat avec appareil(s) integre(s) - Partie 2-2: Directives - Essai electrique)

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 103.40 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC/TR 62878-2-2-ed.1.0

Ausgabedatum: 04.12.2015

Seiten: 29

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

IEC TR 62878-2-2:2015 describes the necessary information on electrical testing for device embedded substrate. This includes the interconnection open- and short-circuit tests as well as the device functional test. It also provides guidelines by demonstrating the electrical test for device embedded substrate. LIEC 62878-2-2:2015 decrit les informations necessaires aux essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s). Elle decrit en outre les essais dinterconnexion en circuit ouvert et en court-circuit et lessai fonctionnel de lappareil. Elle fournit egalement des directives de demonstration des essais electriques de substrat avec appareil(s) integre(s).
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.