IEC 60444-8-ed.2.0

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60444-8-ed.2.0

Ausgabedatum: 15.12.2016

Seiten: 15

Land: Internationale technische Norm

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IEC 60444-8:2016 describes test fixtures suitable for leadless surface mounted quartz crystal units in enclosures as defined in IEC 61837 (all parts). These fixtures allow the measurement of (series) resonance frequency, (series) resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters L1, C1 and C0 using the measurement techniques specified in IEC 60444-5 and for the determination of load resonance frequency and load resonance resistance according to IEC TR 60444-4 and IEC 60444-11. Two test fixtures are described in this document: 1) A fixture using the p-network circuit with electrical values as described in IEC 60444-1 for measurements in transmission mode up to 500 MHz. This fixture includes optional means to add physical load capacitors for the measurement of load resonance parameters up to 30 MHz in accordance with IEC 60444-4. The range of load capacitance is 10 pF or more. Calibration of the measurement system and CL adapter board is explained hereinafter. 2) A fixture based on the reflection method, suitable for a frequency range up to 1 200 MHz. No provisions for adding a physical load capacitance are anticipated. Load resonance parameters can be measured by using the method of IEC 60444-11. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) modification of Clause 1; b) modification of 5.2; c) modification of 5.3; d) modification of 5.4; e) 6.3 Calibration of the reflection measurement system. LIEC 60444-8:2016 specifie les dispositifs dessai appropries aux resonateurs a quartz sans sorties montes en surface dans des enveloppes tels que definis dans lIEC 61837 (toutes les parties). Ces dispositifs permettent de mesurer les parametres de frequence de resonance (en serie), de resistance de resonance (en serie) et de circuit electrique equivalents L1, C1 et C0 a laide des techniques de mesure specifiees dans lIEC 60444-5. Ils permettent egalement de determiner la frequence de resonance a la charge et la resistance de resonance a la charge selon lIEC TR 60444-4 et lIEC 60444-11. Deux dispositifs dessai sont specifies dans le present document: 1) Un dispositif utilisant le circuit en p avec des valeurs electriques telles que decrites dans lIEC 60444-1 pour les mesurages en mode de transmission jusqua 500 MHz. Ce dispositif comprend des moyens facultatifs permettant d’ajouter des condensateurs de charge physique pour le mesurage des parametres de resonance a la charge jusqua 30 MHz conformement a lIEC 60444-4. La plage de la capacite de charge est de 10 pF ou plus. Letalonnage du systeme de mesure et de la carte dadaptateur CL est decrit ci-apres. 2) Un dispositif fonctionnant selon la methode de reflexion, approprie pour une plage de frequences jusqua 1 200 MHz. Aucune disposition concernant lajout dune capacite de charge physique nest prevue. Les parametres de resonance a la charge peuvent etre mesures en utilisant la methode specifiee dans lIEC 60444-11. Cette edition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport a ledition precedente: a) modification de lArticle 1; b) modification du 5.2; c) modification du 5.3; d) modification du 5.4; e) 6.3 Etalonnage du systeme de mesure de reflexion.