Aktiv Normen | Herausgegeben: 01.04.1992

IEC 60748-11-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11-1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
(Dispositifs a semiconducteurs - Circuits integres - Partie 11-1: Examen visuel interne pour les circuits integres a semiconducteurs a l´exclusion des circuits hybrides)

Verfügbare Sprachen: Russisch, Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60748-11-1-ed.1.0

Ausgabedatum: 01.04.1992

Seiten: 71

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

The purpose of these tests is to check the internal materials, construction and workmanship of integrated circuits for compliance with the requirements of the applicable specification. Le but de ces essais est de verifier la conformite aux exigences de la specification applicable des materiaux internes utilises, de la fabrication et de lassemblage des circuits integres.

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