Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.08.2002

IEC 60749-32-ed.1.0

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause exterieure d´inflammation))

Verfügbare Sprachen: Spanisch, Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 26.00 EUR im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 60749-32-ed.1.0

Ausgabedatum: 30.08.2002

Seiten: 9

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu en raison dune chaleur exterieure. Lessai est pratique avec un bruleur-aiguille, simulant leffet de petites flammes pouvant resulter de mauvaises conditions apparaissant dans lequipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog