IEC 61726-ed.4.0

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 61726-ed.4.0

Ausgabedatum: 18.07.2022

Seiten: 0

Land: Internationale technische Norm

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IEC 61726:2022 describes the measurement of screening attenuation by the reverberation chamber measurement method, also called mode stirred chamber method. This document is applicable to screening attenuation measurements of cable assemblies, cables, connectors, and passive microwave components, such as waveguides, phase shifters, diplexers/multiplexers, power dividers/combiners, etc. This fourth edition cancels and replaces the third edition published in 2015. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a. reworded Clause 1 "Scope"; b. replaced IEC TS 62153-4-1 by IEC 62153 (all parts) in Clause 2; c. added the definition of screening attenuation in 3.1; d. added Clause 4 "Principle of screening attenuation measurement"; e. added the descriptions of some test set-ups, such as frequency synthesizer, spectrum analyser, stepper motor, linking devices and the sampling system, etc. in Clause 5; f. added Clause 6 "DUT"; g. reworded Clause 7 "Measurement procedure"; h. added Clause 8 "Caution notes"; i. added Clause 9 "Acceptance criterion"; j. added Clause 10 "Information to be given in the relevant specification". IEC 61726:2022 decrit le mesurage de laffaiblissement decran par la methode de mesure de la chambre reverberante, egalement appelee "methode de la chambre a brassage de modes". Le present document est applicable aux mesurages de laffaiblissement d’ecran des cordons, des cables, des connecteurs et des composants hyperfrequence passifs, tels que les guides dondes, les dephaseurs, les diplexeurs/multiplexeurs, les repartiteurs/combineurs de puissance, etc. Cette quatrieme edition annule et remplace la troisieme edition parue en 2015. Cette edition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport a ledition precedente: a. reformulation de l’Article 1 "Domaine d’application"; b. remplacement de l’IEC TS 62153-4-1 par l’IEC 62153 (toutes les parties) a l’Article 2; c. ajout de la definition de l’affaiblissement d’ecran en 3.1; d. ajout de l’Article 4 "Principe de mesure de l’affaiblissement d’ecran"; e. ajout des descriptions de certains montages d’essai, comme le synthetiseur de frequences, l’analyseur de spectre, le moteur pas-a-pas, les dispositifs de liaison et le systeme d’echantillonnage etc. a l’Article 5; f. ajout de lArticle 6 "DUT"; g. reformulation de l’Article 7 "Procedure de mesure"; h. ajout de l’Article 8 "Notes d’avertissement"; i. ajout de l’Article 9 "Critere d’acceptation"; j. ajout de l’Article 10 "Informations a fournir dans la specification appropriee".