IEC 62132-4-ed.1.0

Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 62132-4-ed.1.0

Ausgabedatum: 21.02.2006

Seiten: 49

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

Describes a method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances. This method guarantees a high degree of repeatability and correlation of immunity measurements. This standard establishes a common base for the evaluation of semiconductor devices used in equipment functioning in an environment subject to unwanted radio frequency electromagnetic waves. Cette partie de la CEI 62132 d Decrit une methode de mesure de limmunite des circuits integres (CI) en presence de perturbations RF conduites, comme par exemple celles resultant de perturbations RF rayonnees. Cette methode garantit un degre eleve de repetabilite et une correlation des mesures dimmunite. Cette norme etablit une base commune pour levaluation des dispositifs a semiconducteurs utilises dans les materiels fonctionnant dans un environnement soumis a des ondes electromagnetiques a radiofrequences intempestives.