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Aktiv Normen | Herausgegeben: 27.05.2020
IEC 62899-503-1-ed.1.0
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
ab 103.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: IEC 62899-503-1-ed.1.0
Ausgabedatum: 27.05.2020
Seiten: 15
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
IEC 62899-503-1:2020(E) specifies a test method for displacement current measurement (DCM) for printed thin film transistors (TFTs) or organic thin film transistors (OTFTs).Populäre Herausgeber
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