Aktiv Normen | Herausgegeben: 28.08.2026

IEC 63287-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 4: Early failure assessment
(Dispositifs a semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilite - Partie 4: Evaluation des defaillances precoces)

Verfügbare Sprachen: Englisch, Französisch, Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

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Detailinformationen

Bezeichnung: IEC 63287-4-ed.1.0

Ausgabedatum: 28.08.2026

Seiten: 15

Land: Internationale technische Norm

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Annotation

IEC 63287-4:2026 gives guidelines for the development of reliability qualification plans using the early failure assessment, based on the environmental conditioning and proposed usage of the product. This document is not intended for military- and space-related applications. L’IEC 63287-4:2026 fournit des lignes directrices pour lelaboration de plans de qualification de la fiabilite qui utilisent levaluation des defaillances precoces, sur la base des conditions environnementales et de l’utilisation prevue du produit. Le present document n’est pas destine aux applications militaires et spatiales.

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