Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IoT system - Part 1: Test method of sound variation detection
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs pour systeme IDO - Partie 1: Methode d’essai de detection de variation acoustique)
Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM
Bezeichnung: IEC 63364-1-ed.1.0
Ausgabedatum: 14.12.2022
Seiten: 24
Land: Internationale technische Norm