Aktiv Normen | Herausgegeben: 14.08.2017

ISO 19668:2017

Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
(Analyse chimique des surfaces — Spectroscopie de photoélectrons par rayons X — Estimation et production de rapports sur les limites de détection des éléments contenus dans les matériaux homogenes)

Verfügbare Sprachen: Englisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt

ab 200.00 USD im E-Shop anzeigen

Detailinformationen

Bezeichnung: ISO 19668:2017

Ausgabedatum: 14.08.2017

Seiten: 24

Land: Internationale technische Norm

Wo ist es zu kaufen?

Erhältlich auf www.technormen.de

Annotation

Description / Abstract: ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

Populäre Herausgeber

der ganze Katalog