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Aktiv Normen | Herausgegeben: 24.08.2020
ISO 22278:2020
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
(Titre manque)
Verfügbare Sprachen: Englisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 235.20 USD
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 22278:2020
Ausgabedatum: 24.08.2020
Seiten: 29
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.deAnnotation
Description / Abstract: This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.Populäre Herausgeber
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