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Aktiv Normen | Herausgegeben: 30.04.2024
ISO 5618-2:2024
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for GaN crystal surface defects — Part 2: Method for determining etch pit density
(Céramiques techniques — Méthode d’essai pour les défauts de surface des cristaux de GaN — Partie 2: Méthode de détermination de la densité des piqures)
Verfügbare Sprachen: Englisch, Französisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
ab 173.00 EUR
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Detailinformationen
Bezeichnung: ISO 5618-2:2024
Ausgabedatum: 30.04.2024
Seiten: 25
Land: Internationale technische Norm
Wo ist es zu kaufen?
Erhältlich auf www.technormen.dePopuläre Herausgeber
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