Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.
Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump
Verfügbare Sprachen: Englisch, Japanisch
Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt
Bezeichnung: JIS C5402-6-2:2005
Ausgabedatum: 20.03.2005
Seiten: 3